苹果logo形貌测量
日期：2021-09-01
来源：三姆森科技
测量要求
扫描手机壳上苹果logo的三维形貌，提取profile测量不同位置的段差
主要特点概览
1.非接触式测量，一体化设计
2.三维形貌扫描，多功能数据处理
3.适用于各种材料的精确测量
4.使用简单，装拆方便
5.扫描速度快，定位精度高
6.±0.5到±1μm重复精度保证
7.稳定性高，抗干扰能力强
测量结果
不同位置段差不同，基本在0到15μm之间
解决现阶段测量装置存在的问题
1.磨损量小，测定困难
2.对材料有一定要求接触式测量，对测量材料有损
3.坏磨损位置不确定，测量速度慢精度低，测量误差大
4.结构复杂，成本高
